Tematyka Kongresu
1. Podstawowe problemy metrologii
- Filozofia pomiaru
- Wzorce jednostek miar, kalibracja, metrologia prawna,
- Ocena jakości pomiarów, błąd, niepewność, wrażliwość,
- Dydaktyka metrologii - nowe treści nauczania,
2. Współczesne problemy metrologii
- Systemy pomiarowe, mikrosystemy, systemy rozproszone, zagadnienia informatyczne i sprzętowe,
- Metody i algorytmy przetwarzania danych pomiarowych, fuzja danych,
- Modelowanie urządzeń i systemów pomiarowych,
- Transmisja danych w systemach pomiarowych, zakłócenia, bezpieczeństwo danych,
- Metody przetwarzania sygnałów pomiarowych,
- Czujniki i przetworniki pomiarowe wielkości fizycznych,
- Technika światłowodowa w metrologii.
3. Nowe metody i technologie w technice pomiarowej
- Pomiary biomedyczne, metody diagnostyki i analizy,
- Pomiary i diagnostyka obiektów mechanicznych,
- Pomiary chemiczne,
- Pomiary kwantowe,
- Pomiary w inżynierii lądowej i wodnej,
- Pomiary technologiczne, energetyczne i materiałowe,
- Pomiary w ochronie środowiska,
- Metrologia w technice militarnej.

Terminy
15.06.2009 Zgłoszenie uczestnictwa w Kongresie
30.09.2009 Ostateczny termin nadsyłania streszczeń referatów
15.11.2009 Potwierdzenie wstępnej kwalifikacji przyjęcia referatu
30.11.2009 Informacja o wysokości opłat udziału w Kongresie
30.01.2010 Ostateczny termin nadsyłania pełnego tekstu referatu
30.04.2010 Potwierdzenie przyjęcia referatu
30.05.2010 Ostateczny termin wniesienia opłat konferencyjnych
30.06.2010 Przesłanie programu Kongresu